Аннотация: В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, спектрального, микрорентгеноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов и качества изготовленных из них деталей
Ваш регион: Россия, Москва
Аннотация: В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, спектрального, микрорентгеноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов и качества изготовленных из них деталей
Технические характеристики
АннотацияВ пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, спектрального, микрорентгеноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов и качества изготовленных из них деталей
ИздательствоФлинта
Серия-
АвторБатаев, Анатолий Андреевич
ISBN978-5-9765-0207-9
Год издания2007
Формат60x88/16